Espectrómetro de fotoelectrones emitidos por rayos X

de laboratoriopara I+DMCP

Resolución XPS de última generación: 500 nm / 100 nm (Laboratorio / Sincrotón) Fácil navegación de muestra con la tecnología PEEM Espectroscopia de punto pequeño Filtro de energía corregido para la aberración Fuente de rayos X monocromática de alta potencia ARUPS con aceptación del ángulo final Creado en cooperación con FOCUS GmbH El NanoESCA ofrece un mapeo de estado químico con una resolución lateral XPS insuperable (<500 nm en condiciones de laboratorio). El instrumento permite analizar las estructuras más pequeñas de la muestra, proporcionando información sobre el estado químico más allá de los límites de otras técnicas de alta resolución lateral como el barreno de barrido y el TOF SIMS La navegación de las muestras en tiempo real está garantizada por la técnica PEEM, que funciona en régimen de electrones secundarios. El modo PEEM permite encontrar fácilmente pequeñas características en un área de muestra grande y proporciona una alta resolución (< 50 nm de resolución). Además, el modo PEEM proporciona información cuantitativa sobre la función de trabajo muy local y la carga local de muestras. Las capacidades de espectroscopia del NanoESCA se pueden completar con la opción ARUPS, que permite analizar el espacio k desde áreas m, por ejemplo, pequeños granos en una superficie policristalina con una aceptación angular final. Por su revolucionario diseño, el NanoESCA recibió el premio 2007 R&D 100.