Microscopio electrónico FOCUS PEEM

de laboratoriomodularen tiempo real

Microscopía sensible a la superficie 20 nm Resolución lateral Espectroscopia local imágenes k-Space Fácil de operar Compatible con sistemas MULTIPROBE UHV Un producto FOCUS La Microscopía Electrónica de Fotoemisión (PEEM) es una técnica de imagenología extremadamente poderosa, cuya versatilidad para la imagenología de contraste topográfica, química y magnética a alta resolución ha sido demostrada en muchas aplicaciones de laboratorio y sincrotrón. Importantes contribuciones a la caracterización de dispositivos magnéticos, la investigación Plasmon, la química de superficies y el análisis químico de alta resolución lateral en combinación con la radiación sincrotrón, la investigación de procesos resueltos en el tiempo y la obtención de imágenes del espacio k son sólo algunos ejemplos de investigación activa basada en PEEM. A diferencia de un microscopio electrónico de barrido (SEM), el PEEM toma directamente imágenes de las superficies que emiten fotoelectrones en tiempo real, sin necesidad de escanearlas La emisión de electrones de las superficies puede ser causada de varias maneras - por la excitación de la irradiación de fotones, térmicamente, a través de bombardeo de electrones/ion o por la emisión de campo. A lo largo de los años, el FOCUS-PEEM ha mejorado continuamente en cuanto a rendimiento y facilidad de uso. El PEEM, junto con la etapa de muestreo integrada de alta estabilidad (IS) y varios filtros de energía disponibles, siguen un concepto modular fácil de actualizar. Además, la operación asistida por software garantiza un funcionamiento PEEM seguro y eficiente en el tiempo, incluso en muestras difíciles. Con más de 50 unidades en el mercado, el FOCUS IS-PEEM es una potente herramienta de análisis de superficies.