HISAC Ultima - Equipo de Ensayo Dinámico de nueva generación para Interruptores Automáticos de SCOPE ..... Es el analizador más completo para comprobar el comportamiento dinámico de los interruptores de EHV en tensión de hasta 765 kV.
HISAC Ultima puede medir la resistencia dinámica de contacto en SEIS roturas de tres polos en una sola operación, reduciendo así significativamente la tensión en el interruptor y el tiempo de inactividad de las pruebas.
Ofrece flexibilidad para crear planes de prueba preprogramados que incluyen todos los ajustes de prueba para todos los tipos de interruptores disponibles en un patio de maniobras que pueden ser simplemente recuperados en el momento de la prueba real. Esto le ahorra tener que hacer todos los ajustes en los patios de maniobras.
El software de análisis ofrece una gama de utilidades que permite la monitorización efectiva de la condición del CB mediante la comparación de datos de prueba actuales con firmas anteriores y la predicción del rendimiento futuro.
Mide los tiempos de contacto principal/PIR, rebote, no simultaneidad de contactos y tiempos de contacto auxiliar.
Analiza las características de desplazamiento de los contactos en cuanto a velocidad, inserción, distancia entre contactos, sobrecarrera y rebote con un transductor y un dispositivo de montaje adecuados.
Registra la firma de la Resistencia de Contacto Dinámica de los contactos principales y de arco, de las 6 rupturas simultáneamente.
SCOPE ofrece transductores de desplazamiento rotativos y lineales resistivos con accesorios universales / especialmente diseñados para adaptarse a la variedad de CBs disponibles.
El módulo DCRM captura la variación dinámica en la resistencia de los contactos principales y de arco durante la operación del interruptor a través de una fuente de 100 A DC
Módulos opcionales adicionales están disponibles para medir el valor PIR y para monitorear la DC de la estación (voltaje de la bobina), la corriente del motor u otros parámetros estáticos a través de canales analógicos configurables.
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