Comprobador de funcionamiento Compact MULTI series

para tarjetas electrónicascompactoanalógico

Esta configuración se recomienda para pruebas pre-funcionales, funcionales y de combinación. La versatilidad y escalabilidad del sistema de pruebas Compact MULTI es perfectamente adecuada para la integración de instrumentación, capacidades y técnicas externas en un único programa de pruebas. Está especialmente indicado para la realización de bancos de pruebas funcionales de equipos y placas electrónicas. La reducción de la huella y el cumplimiento de los criterios WCM, permiten el uso de múltiples gabinetes aparte, lo que da la oportunidad de implementar bancos de prueba muy complejos para los diferentes sectores de la electrónica. Compact Multi está especialmente indicado para: prueba de funcionamiento de la placa Prueba EOL del equipo Programación a bordo prueba de combinación ict/funcional prueba final automatizada implementación de la secuencia de prueba automatizada Características Matriz y bus analógico (S64N, S64A, S64F) Bus y matriz de potencia (módulo HRELE) Tarjetas de bus digital y de canales híbridos (P32) Hasta 12 fuentes de alimentación de CC (APx, ALx) Instrumentos propios integrados en el módulo ACL Integración de instrumentos disponibles en el mercado Programador universal a bordo (hasta 8 en paralelo) Gestión de protocolos de comunicación (Serial, USB, CAN, LIN, K-line, GPIB,...) Secuencia de pruebas funcionales con el sistema operativo NI (Labview/Teststand) ict y/o secuencia de pruebas funcionales con el sistema operativo VIVA de SEICA Autodiagnóstico a nivel de módulo Receptor con o sin contrastes superiores Interfaz de conector ODU Gestión de lectura de códigos de barras y códigos 2D Recolección automática de datos estadísticos