Perfilómetro óptico S wide

3Dpara piezas grandesindustrial

El S wide es un sistema diseñado para medir rápidamente grandes áreas de muestra de hasta 300 x 300 mm. Proporciona todos los beneficios de un microscopio digital integrado en un instrumento de medición de alta resolución. Extremadamente fácil de usar mediante un solo botón para adquirir. Sistema de metrología óptica 3D de amplio rango. - Fabricación avanzada - Arqueología y Paleontología - Electrónica de consumo - Dispositivos médicos - Moldes - Óptica - Industria relojera Repetibilidad de altura submicrónica en toda el área de extensión Medición de altura con un solo disparo de hasta 40 mm sin escaneo en Z Lentes bitelecéntricas con muy baja distorsión de campo que proporcionan una metrología precisa Desviación de forma de los modelos CAD en 3D proporcionando la diferencia geométrica y la medición de la tolerancia