Analizador de argón DF-750 ULTRA

de nitrógenode heliode oxígeno

El DF-750 ULTRA es la primera elección en análisis de humedad para la industria de semiconductores El DF-750 ULTRA es un analizador de trazas/ultra trazas optimizado para ofrecer las mejores mediciones de humedad del sector en los gases de pureza ultra alta (UHP) utilizados en las fábricas de semiconductores de 300 mm. Mediciones de trazas/ultra-trazas TDL de alta estabilidad Una solución sin compromisos Alta fiabilidad Diseñado específicamente para realizar mediciones de humedad de trazas y ultratrazas en una gama de gases UHP, el DF-750 ULTRA está optimizado para fábricas de semiconductores de 300 mm. Mide la humedad como contaminante en los gases de grado electrónico nitrógeno, hidrógeno, helio, argón y oxígeno. La tecnología de detección de láser de diodo sintonizable (TDL) ofrece un límite inferior de detección (LDL) de 55 partes por trillón (ppt), líder en el sector, lo que garantiza que las mediciones estables y de alta precisión del DF-750 ULTRA satisfagan las necesidades de control preciso de la producción de semiconductores. El robusto DF-750 ULTRA requiere poco mantenimiento durante toda su vida útil y ofrece una estabilidad sin desviación, lo que amplía considerablemente los intervalos de calibración. Este bajo coste de propiedad, combinado con un rendimiento de medición excepcional, convierte al DF-750 ULTRA en la solución analítica de primera elección para las comprobaciones de calidad de gases UHP. El DF-750 ULTRA está diseñado para cumplir los excepcionales estándares de pureza de gas exigidos por los fabricantes de semiconductores de todo el mundo. Utilizando la tecnología de detección TDL más avanzada, alojada en una célula Herriot robusta y resistente, el DF-750 ULTRA evita el contacto de la humedad con los componentes ópticos de detección. El resultado es un analizador que proporciona una medición ultrasensible,