El monitor compacto de espesor de película es un medidor espectrofotométrico de espesor de película por reflexión que utiliza una pequeña sonda de reflexión y es aplicable en todas las situaciones, desde el nivel de laboratorio hasta la inspección en línea al 100% en el proceso de producción. Presenta una excelente capacidad de mantenimiento y puede utilizarse para su incorporación a equipos de proceso y gestión de líneas.
Es posible la medición simultánea de hasta 9 tipos de películas transparentes.
Puede utilizarse como monitor en línea o de punto final para los distintos procesos de películas multicapa.
La sonda compacta puede instalarse en un espacio reducido dentro de la herramienta de proceso. También es posible juzgar la proporción de mezcla de la capa mixta o la cristalinidad del polisilicio utilizando la teoría EMA.
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