Evaluación de la resistencia a la flexión de componentes electrónicos y sustratos
Puede realizar pruebas de 3 y 4 puntos en sustratos.
Puede medir valores de resistencia mientras mide simultáneamente la resistencia del sustrato. (opcional)
Puede calcular la flexión crítica y otros parámetros de prueba.
Puede realizar ensayos de flexión cíclica.
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