Detector de defectos por ultrasonidos MIV-X
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Detector de defectos por ultrasonidos - MIV-X - Shimadzu France - benchtop
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Características

Tecnología
por ultrasonidos
Movilidad
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Descripción

Visualización de grietas, huecos, delaminación y otros defectos ocultos normalmente imposibles de comprobar visualmente Cualquiera puede realizar rápida y fácilmente una inspección visual de superficies Gracias a la técnica de imagen de luz patentada de Shimadzu, que combina un oscilador ultrasónico con un estroboscopio, los defectos cercanos a la superficie de un material, incluido el desprendimiento de las superficies de unión y adhesivas de materiales heterogéneos, así como la pintura, los aerosoles térmicos y los revestimientos, pueden inspeccionarse fácilmente y de forma no destructiva. Basta con acoplar el oscilador ultrasónico a la muestra y colocar la cámara por encima de la superficie de inspección. La propagación de los ultrasonidos se visualiza rápidamente y los defectos se identifican fácilmente en el vídeo. El software de fácil manejo incorpora funciones para marcar los defectos y medir su tamaño con facilidad. La gama incluye un juego de zoom óptico opcional, que puede detectar defectos más pequeños. Con la tecnología de detección óptica de defectos por ultrasonidos, se estimula la muestra, se detecta ópticamente el desplazamiento de la superficie y se observa la propagación de la onda ultrasónica en la superficie.El detector óptico de defectos por ultrasonidos MIV-X ayuda en las regiones en las que es difícil realizar ensayos por ultrasonidos (UT). Deje en manos de MIV-X la inspección no destructiva de superficies y superficies cercanas El instrumento está equipado con una función para eliminar digitalmente el ruido en la ventana que muestra la propagación de los ultrasonidos, lo que simplifica la identificación de defectos. El instrumento está equipado con una interfaz de usuario que simplifica las operaciones, como la visualización de una escala (regla) en las imágenes adquiridas de grietas y desconchados y la medición de la distancia entre dos puntos seleccionados.

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