Espectrómetro de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía EDX-8100
para aplicaciones solaresquímicopara la industria electrónica

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía - EDX-8100 - Shimadzu France - para aplicaciones solares / químico / para la industria electrónica
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Características

Tipo
de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía
Sector
de medición, químico, para aplicaciones solares
Configuración
compacto
Tipo de detector
SDD

Descripción

Un EDX sobre todos los demás El EDX-8100 ofrece un alto nivel de precisión y velocidad en el análisis de elementos contenidos en diversas muestras. ■ Materiales eléctricos/electrónicos - Detección de RoHS y halógenos - Análisis de películas delgadas para semiconductores, discos, cristales líquidos y células solares.... Amplia cámara de muestras con un tamaño reducido La anchura instalada es un 20% menor que la del instrumento anterior gracias a su cuerpo compacto. El EDX-8100 puede... El software PCEDX Navi permite un manejo sencillo desde el principio El software PCEDX Navi está diseñado para simplificar la espectrometría de fluorescencia de rayos X a los principiantes, a la vez que proporciona el conjunto de funciones y... El detector SDD de alto rendimiento y el hardware optimizado consiguen un alto nivel de sensibilidad, velocidad de análisis y resolución energética que antes eran inalcanzables. Admite el análisis de elementos ligeros.. Admite todo tipo de muestras, desde pequeñas a grandes, desde polvos a líquidos. Las opciones incluyen una unidad de medición de vacío y una unidad de purga de helio para la medición altamente sensible de elementos ligeros y... Método de la curva de calibración Se mide una muestra estándar y la relación con la intensidad de rayos X fluorescentes se traza como una curva de calibración.... materiales eléctricos/electrónicos Detección de RoHS y halógenos Análisis de películas delgadas para semiconductores, discos, cristales líquidos y células solares automóviles y maquinaria Cribado de elementos peligrosos ELV Análisis de composición, medición del espesor de chapado y medición del peso de la película de revestimiento por conversión química para piezas de maquinaria

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