Espectrómetro de fluorescencia de rayos X EDX 3000PLUS

EDXpara la joyeríapara análisis de metales preciosos

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X EDX3000 PLUS es el instrumento más avanzado para el análisis de metales preciosos. La nueva generación de Amptek SDD (Silicon Drift Detector), detector de ventana de berilio con tecnología digital multicanal EDX3000 PLUS es capaz de analizar con precisión Metales Preciosos de todos los tamaños y formas. El oro se basa en el peso, y el instrumento en la precisión. Las características más evidentes del EDX 300OPlus son su extraordinaria alta precisión, su alta resolución y su cámara HD. El funcionamiento inteligente con una sola tecla simplifica las pruebas de oro, plata, platino, paladio y otros metales preciosos. Los resultados de las pruebas se ajustan plenamente a los requisitos de la norma GB/T 18043-2000. Campo de aplicación Planta metalúrgica de metales preciosos Casa de empeños Recuperación de metales preciosos Diseño humanizado Más seguro: Dispositivo de seguridad integrado de rayos X: el obturador interactúa con el enclavamiento; la carcasa está unida al terminal de habilitación de alta tensión para evitar la radiación. Características de rendimiento La tecnología de detección más avanzada: SDD (Silicon Drift Detector) de Amptek, con una resolución ultraalta de hasta 135 eV. Ventaja: gran área de detección (25 mm²); recepción de más información por unidad de tiempo; mejor tasa de recuento y resolución; mayor eficacia de detección de metales preciosos; mejor SNR y menor límite de detección. Tecnología multicanal digital Ventaja: mejora efectiva de la eficiencia de salida, realiza una tasa de recuento ultra alta, garantiza una tasa de recuento efectiva superior a 100K-CPS.