Las etapas de escáner de nanoposicionamiento SMARFLEX aprovechan las ventajas de las flexiones mecánicas piezoeléctricas para realizar tareas de posicionamiento de alta precisión de hasta varios 100 μm.
El PLF3232-x.60 ofrece un rango de exploración de 60 μm en la dirección X. Con un peso de 30 g, es muy ligero y también bastante compacto, con 32 x 32 x 12 mm.
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