Materials Lab XM es un producto XM (Xtreme Measurement) específico para una aplicación que se centra principalmente en la investigación de materiales.
El producto Materials Lab XM proporciona un dominio de tiempo y una plataforma de medición de CA de grado de referencia totalmente integrados. No es necesario cambiar las conexiones de las muestras entre las técnicas. Las mediciones en el dominio del tiempo incluyen la caracterización I-V (tensión de corriente), así como técnicas de pulso rápido. Las técnicas de prueba de CA incluyen todo, desde el análisis de un solo seno hasta la transformación de Fourier rápida / multisinusal para un análisis de baja frecuencia más rápido, pasando por los armónicos y la intermodulación para probar la linealidad y la descomposición de los materiales. Las mediciones de la espectroscopia de impedancia eléctrica (EIS), admitancia, permitividad y capacitancia se proporcionan desde la plataforma de software XM-studio MTS, junto con la funcionalidad integrada de análisis de circuitos equivalentes.
Las pruebas de dominio temporal y de CA pueden combinarse en secuencias de prueba y conmutarse instantáneamente, lo que permite que las formas de onda de CC y de impulsos activen las portadoras de carga, seguidas inmediatamente de un análisis EIS de las portadoras activadas. Esta integración estrechamente vinculada es sólo con el Laboratorio de Materiales XM. Las mediciones incluyen:
- I-V (barridos de tensión con medición de corriente - usado para caracterizar materiales electrónicos y dieléctricos)
- P-E (polarización / campo eléctrico - usado para realizar pruebas de histéresis para caracterizar materiales ferroeléctricos)
- Impulso de alta velocidad (utilizado para activar portadores de carga en materiales electrónicos y dieléctricos)
- Escalera y formas de onda de rampa analógica continua y suave
- Impedancia, admitancia, permitividad / capacitancia, módulo eléctrico
- Capacidad C-V - tensión, Mott-Schottky
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