Un analizador elemental diseñado para aplicaciones exigentes: el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía (ED-XRF) SPECTRO XEPOS redefine el análisis XRF con nuevos y excepcionales niveles de rendimiento
VISIÓN GENERAL
La extraordinaria sensibilidad lleva a una precisión mejorada de hasta un factor 3 - la base para una alta precisión al analizar concentraciones de elementos menores a mayores
Mida más bajo que nunca: La excitación adaptativa, el diseño avanzado de los tubos y el sistema de detección de alto rendimiento dan como resultado límites de detección significativamente más bajos (normalmente un factor 3) para una amplia gama de elementos
Dominar lo desconocido: La herramienta de software Turboquant II proporciona una capacidad sin precedentes para analizar muestras desconocidas, independientemente de si son líquidas, sólidas o en polvo, ya sean hojas de árbol, plásticos, aceite, granito o vidrio..
El nuevo espectrómetro SPECTRO XEPOS representa un salto cuántico en la tecnología de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía. Proporciona avances revolucionarios en el análisis multielemental de las concentraciones de elementos mayores, menores y trazas. Los nuevos desarrollos en la excitación y la detección proporcionan una sensibilidad y unos límites de detección extraordinarios, lo que supone un notable aumento de la precisión y la exactitud.
El sorprendente SPECTRO XEPOS destaca en tareas críticas, desde el análisis de cribado rápido hasta el control de calidad preciso de los productos. Aplíquelo para el procesamiento en línea en una gran variedad de industrias, para la geología y la minería, para el control medioambiental y de residuos, y para la investigación y el mundo académico.
Las diferentes versiones maximizan el rendimiento para grupos elementales seleccionados en matrices específicas. Un innovador tubo de rayos X y una nueva y exclusiva tecnología de excitación adaptativa proporcionan la mayor sensibilidad posible, optimizada para los elementos objetivo elegidos.
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