Tarjeta controlador FGPA S-TEST UTB

de LVDS

Placa de aplicación universal para pruebas eficientes a nivel de sistema (SLT) de sensores digitales, pruebas de caracterización de sensores o pruebas finales en la producción en serie de sensores. Datos seleccionados Rango de tensión de alimentación: -2 V...+20 (25)1) V Corriente de alimentación: hasta ±50 (20)1) mA/fuente 12.resolución de temporización de 5 ns Control de velocidad de giro (1 V/μs...8,3 V/ms) Características FPGA rápida para FW y núcleos IP de interfaz de host Soporte para SPI, I²C, JTAG, SENT, PSI5, CAN-FD2), LIN, ZACwire™ 16 pines de E/S libremente programables 4 fuentes de alimentación independientes Funcionalidad de disparo externo Interfaz de placa base LVDS rápida Interfaz de funciones especiales para ampliación de hardware personalizada