La tecnología de Shearography es un método de medición láser y un derivado de un método electrónico convencional de medición de espectros interferométricos (ESPI). Esta adaptación de la Shearografía permite el uso en campo bajo condiciones de aislamiento sin vibración, disfrutando aún de la alta sensibilidad de medición que la Shearografía Láser proporciona al usuario final de 30nm fuera del plano (dirección z).
Procedimiento de medición:
El sensor de Shearography ilumina la superficie con luz láser moteada emitida por los diodos láser. La reflexión de la luz láser lleva la información de la superficie a la cámara CCD de observación. La Shearography siempre necesita una imagen de referencia y una imagen de carga de un componente para los resultados de medición. Expuesto a la carga (pulso de calor térmico, vacío, etc.) el material inspeccionado muestra una deformación local (imagen de carga). De la imagen de carga se resta la referencia. El defecto local muestra un comportamiento diferente expuesto a la carga que el área sana circundante.
Dado que la Shearografía es un método de medición diferencial con haces de objetos cortados, que garantiza la estabilidad del sistema para su uso en campo. No se detecta la deformación del defecto sino el gradiente de la deformación. Por lo tanto, las imágenes típicas de los defectos de Shearography muestran el defecto de mariposa que se ve en la animación de abajo.
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