Conductímetro de sobremesa EddyCus® TF map 2525RM

EddyCus® TF map 2525RM - Mapeo de conductividad e identificación de defectos en películas finas Diversas características de los materiales determinan su conductividad. Junto a su composición, también su estructura y su pureza afectan a la conductividad. El EddyCus® TF map 2525RM es un sistema de mapeo por corrientes de Foucault dedicado a la obtención de imágenes de alta resolución de la conductividad y de las características correlacionadas que exponen las propiedades, los efectos y los defectos del material. El sistema puede equiparse con varios sensores EddyCus para la obtención de imágenes de conductividad en alta resolución o alta penetración y detección de defectos mediante el uso de sondas diferenciales. El sistema admite la creación de imágenes (Eddy Current C-Scans) de la superficie con un paso de medición de 100 µm a 10 mm. El sistema de tres ejes es capaz de escanear áreas 2D y 2.5D con un tamaño de hasta 250 x 250 mm / 10 x 10 pulgadas. Las aplicaciones típicas abarcan la caracterización de superficies de materiales conductores como placas de SiC, grafito, metal, aleación o acero u otros productos semiacabados conductores. Además, el sistema puede utilizarse para comprobar la integridad eléctrica de la electrónica impresa y las capas. Los ensayos con corrientes de Foucault permiten cuantificar la conductividad del material [IACS o MS/m] o la resistividad [Ohm m u Ohm / mm² / m]. La conductividad de los materiales proporciona información sobre las características del material, como el tipo de material y la homogeneidad de la composición del material. Además de la información directa sobre las propiedades eléctricas, la conductividad también contiene información relacionada con sus propiedades térmicas o sus propiedades mecánicas y su integridad estructural.