Sistema de prueba de laboratorio S530

para semiconductorescompactode alta tensión

BEAVERTON, Oregón, 16 de septiembre de 2021 /PRNewswire/ -- Tektronix, Inc., proveedor líder mundial de soluciones de prueba y medición, ha lanzado hoy el software KTE V7.1 para el sistema de pruebas paramétricas de la serie S530 de Keithley, para ayudar a acelerar la fabricación de chips semiconductores justo cuando el mercado mundial más lo necesita. Las nuevas opciones disponibles por primera vez con la versión KTE V7.1 incluyen una nueva capacidad de prueba en paralelo y una opción única de prueba de capacitancia de alto voltaje para aplicaciones emergentes de potencia y banda ancha. KTE V7.1 mejora los tiempos de prueba en más de un 10 por ciento con respecto a KTE V5.8, lo que significa que los ingenieros pueden reducir el tiempo de inactividad y fabricar chips más rápidamente. La aparición del 5G y el crecimiento del IoT han impulsado la demanda mundial de semiconductores. La escasez mundial no solo exige un aumento de la fabricación, sino una capacidad más rápida para probar los nuevos chips que se están desarrollando. El lanzamiento de este nuevo sistema de pruebas de Tektronix puede ayudar a acelerar la fabricación al disminuir el tiempo de prueba y acelerar así la entrega de nuevos chips al mercado. "Las tecnologías emergentes de semiconductores analógicos, de banda ancha (SiC y GaN) y de potencia requieren pruebas paramétricas que maximicen el rendimiento de las mediciones, aborden una amplia gama de productos y minimicen los costes", afirma Peter Griffiths, director general de Sistemas y Software de Tektronix. "Nuestros clientes, entre los que se encuentran los mayores fabricantes de chips del mundo, disfrutarán de las mejoras de KTE V7.1 que permitirán a los ingenieros seguir diseñando innovaciones a un ritmo sin precedentes para satisfacer las demandas de los mercados cambiantes."