Carga electrónica DC Series 2380
programable

Carga electrónica DC - Series 2380 - Tektronix - programable
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Características

Especificaciones
DC, programable

Descripción

Las cargas electrónicas de CC programables de la serie 2380 son cargas autónomas de salida única con modelos de 200 W, 250 W y 750 W. Los múltiples modos de funcionamiento con hasta 25 kHz de ciclo dinámico, la resolución superior de tensión/corriente y la precisión de lectura junto con las múltiples opciones de interfaz hacen que la Serie 2380 sea ideal para probar una fuente de alimentación en su banco. Múltiples modos de funcionamiento: corriente constante (CC), tensión constante (CV), resistencia constante (CR) y potencia constante (CP) 0.Resolución de lectura de tensión/corriente de 1 mV/0,01mA y precisión de lectura de tensión/corriente de 0,025%/0,05% Modo de ciclo dinámico de hasta 25 kHz con velocidad de giro ajustable - Modo de lista con hasta 7 grupos de archivos de lista - Diversos modos de prueba: modo de prueba de la batería, modo de prueba de carga simulada por LED, modo de medición del tiempo de subida/bajada de tensión, modo de prueba de protección de sobrecorriente/potencia - Múltiples funciones de protección incorporadas: protección contra sobretemperatura (OTP), protección contra sobretensión (OVP), protección contra sobrecorriente (OCP), protección contra sobrealimentación (OPP), protección contra tensión inversa (RVP) - Interfaces GPIB, USB y RS232 integradas Permite a los usuarios probar sus dispositivos en múltiples modos de trabajo utilizando un solo instrumento Proporciona una alta confianza en las lecturas Permite a los usuarios validar el rendimiento transitorio de las fuentes de alimentación de CC cuando se someten a cambios de carga de alta velocidad Proporciona una forma rápida y precisa de realizar complicados pasos de prueba con eventos de sincronización internos y externos Cubre una amplia gama de aplicaciones utilizando un solo instrumento Garantiza la protección del DUT y de la electrónica de la serie 2380 contra daños Satisface las diferentes necesidades de la interfaz de prueba

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