Acelere los estudios de investigación, fiabilidad y análisis de fallos de dispositivos semiconductores, materiales y desarrollo de procesos con el 4200A-SCS. Es el analizador de parámetros de mayor rendimiento y ofrece mediciones sincronizadas de corriente-tensión (I-V), capacitancia-tensión (C-V) e I-V pulsadas ultrarrápidas.
Visión paramétrica, rápida y clara.
Avanzar en sus audaces descubrimientos nunca ha sido tan fácil. El analizador de parámetros 4200A-SCS reduce el tiempo que transcurre desde la configuración hasta la ejecución de las pruebas de caracterización hasta en un 50%, lo que permite una capacidad de medición y análisis sin concesiones. Además, la experiencia en mediciones integrada proporciona una guía de pruebas inigualable y una confianza suprema en las mediciones resultantes.
Aspectos destacados
- Hardware de medición avanzado para tipos de medición I-V de CC, C-V e I-V pulsada
- Comienzo inmediato de las pruebas con cientos de pruebas de aplicación modificables por el usuario incluidas en el software Clarius
- Funciones automatizadas de extracción de parámetros en tiempo real, gráficos de datos y análisis
Caracterización C-V precisa
Mida femtofaradios de un solo dígito con la unidad de capacitancia-tensión (CVU) más reciente de Keithley, la 4215-CVU. Al integrar una fuente de CA de 1 V en la arquitectura CVU líder del sector de Keithley, la 4215-CVU ofrece mediciones de capacitancia de bajo ruido a frecuencias de 1 kHz a 10 MHz.
Aspectos destacados
- Primer medidor C-V de su clase capaz de manejar una fuente de tensión alterna de 1 V
- Resolución de frecuencia de 1 kHz de 1 kHz a 10 MHz
- Mide capacitancia, conductancia y admitancia
- Medición en hasta cuatro canales con el multiswitch 4200A-CVIV
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