Alimentación eléctrica AC/DC 2280S series

de salida simplelinealcon salida USB

Las fuentes de la serie 2280S ofrecen hasta 192 W de potencia de bajo ruido de salida y una sensibilidad de medición de la corriente de carga superior. Las funciones de trazado integradas permiten supervisar tendencias como la deriva. Estas fuentes ofrecen una resolución de hasta 6½ dígitos para caracterizar con confianza los pequeños cambios en las corrientes de carga. Cuatro rangos de medición de la corriente de carga permiten medir la corriente de carga completa de un dispositivo, la corriente en modo de espera y las pequeñas corrientes en modo de reposo con una precisión de calidad DMM. Las fuentes de alimentación de CC programables, de bajo ruido y de medición de precisión de la serie 2280S son mucho más que simples fuentes de energía limpia; también son instrumentos de medición de precisión. Pueden generar tensiones estables y de bajo ruido, así como controlar las corrientes de carga en un amplio rango dinámico que va desde los amperios hasta los nanoamperios. El modelo 2280S-32-6 puede suministrar hasta 32 V a un máximo de 6 A; el modelo 2280S-60-3 puede suministrar hasta 60 V a un máximo de 3,2 A. Ambas fuentes utilizan regulación lineal para garantizar un bajo ruido de salida y una sensibilidad de medición de la corriente de carga superior. Una pantalla de transistores de película fina (TFT) en color de alta resolución muestra una amplia gama de información sobre las mediciones. Los botones de teclas programables y la rueda de navegación se combinan con la pantalla TFT para proporcionar una interfaz de usuario de fácil navegación que acelera la configuración y el funcionamiento del instrumento. Además, las funciones de trazado integradas permiten controlar tendencias como la deriva. Esto es algo único en el ámbito de las fuentes de alimentación de banco Estas fuentes proporcionan la flexibilidad necesaria para las aplicaciones de banco y de sistemas de prueba automatizados. Por ejemplo, ofrecen un modo de lista, disparos y otras funciones de optimización de la velocidad para minimizar el tiempo de prueba en aplicaciones de pruebas automatizadas.