Microscopio SEM MIRA

para control de calidadpara la investigaciónpara inspección de material

SEM analítico de alta resolución para rutinas de caracterización de materiales, investigación y aplicaciones de control de calidad a escala submicrométrica Los Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM) de 4ta generación MIRA de TESCAN con fuente de emisión de electrones FEG Schottky combina imágenes de SEM con análisis de composición elemental en vivo en única ventana del software Essence™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos de la muestra tanto morfológicos como elementales, convirtiendo a MIRA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección rutinaria de materiales en control de calidad y análisis de fallas en laboratorios de investigación. • Plataforma analítica EDS totalmente integrada con TESCAN Essence™, que combina de manera eficiente las imágenes SEM con el análisis de composición elemental en una sola ventana del software Essence™. • Imágenes óptimas y condiciones analíticas disponibles de inmediato gracias al exclusivo diseño óptico sin apertura de TESCAN con tecnología In-flight Beam Tracing™. • Navegación SEM en la muestra precisa y sin esfuerzo con aumentos de hasta 2× sin necesidad de cámara de navegación óptica adicional debido al exclusivo diseño Wide Field Optics™. • Modo SingleVac™ como característica estándar para la observación de carga en muestras sensibles al haz. • Software Essence™ intuitivo y modular diseñado para una operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de experiencia del usuario. • Máxima seguridad de los detectores montados en cámara cuando platina y muestra están en movimiento garantizadas con el modelo Essence™ 3D Colisión.