Microscopio SEM MAGNAde metrologíade mesade alta resolución
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Características
- Tipo
- SEM
- Aplicaciones técnicas
- de metrología
- Configuración
- de mesa
- Otras características
- de alta resolución, de fuerte contraste
Descripción
UHR SEM para la caracterización de nanomateriales a escala sub-nanométrica
- Imágenes de alta resolución y alto contraste de materiales de próxima generación (por ejemplo, estructuras de catalizadores, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala)
- Excelente plataforma adecuada para la metrología SEM/STEM a escala sub-nanométrica
- Rápida configuración del rayo de electrones - las condiciones óptimas de imagen están garantizadas por el Rayo en Vuelo Tracing™
- Sistema multidetector TriBE™ y TriSE™ para la nanocaracterización de la muestra
- Plataforma modular de software intuitiva diseñada para un funcionamiento sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
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