Microscopio FIB/SEM AMBER

para análisispara investigación en materialesde alta precisión

FIB-SEM nano analítico versátil para amplias capacidades de investigación de materiales • Preparación de micro muestras con alta precisión • Imagen SEM libre de campos con ultra alta resolución con nano análisis • Campo de visión extendido con fácil navegación. • Automatización multisitio del proceso. • Tomografía FIB-SEM multimodal. • Interfaz de usuario con software modular de fácil uso. • Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones.