Microscopio FIB/SEM SOLARIS X

para análisisde alta resoluciónde resolución ultra alta

Una plataforma de Plasma FIB-SEM para seccionamiento profundo para análisis de fallas a nivel paquete con la resolución más alta • Corte transversal de área grande libre para el análisis de fallas físicas con paquete de tecnologías avanzadas • Prepare grandes secciones transversales FIB de hasta 1 mm de ancho • Obtenga imágenes de alta resolución con bajo ruido en keV en tiempo de adquisición corto de coincidencia FIB-SEM con la muestra inclinada • Monitoreo SEM en vivo durante el fresado FIB para un apunte final preciso • Observe los materiales sensibles al haz utilizando bajos keVs de resolución ultra alta con alto contraste de material para superficie sensible • Técnicas y recetas efectivas para seccionamiento transversal rápido de muestras compuestas libre de artefactos (pantallas OLED y TFT, dispositivos MEMS, dieléctricos de aislamiento) con altas corrientes • Interfaz de usuario modular Essence™ fácil de usar