Microscopio SEM Phenom ParticleX AM

para análisisde medidaspara control de calidad

SEM de sobremesa para análisis de fabricación aditiva, capaz de observar muestras grandes de hasta 100 mm x 100 mm. Análisis de fabricación aditiva El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom ParticleX es un SEM de sobremesa polivalente diseñado para la fabricación aditiva, que ofrece pureza a microescala. Está equipado con una cámara lo suficientemente grande como para analizar muestras de hasta 100 mm x 100 mm. El mecanismo patentado de venteo y carga garantiza el ciclo de venteo/carga más rápido del mundo, proporcionando el mayor rendimiento. Con el SEM de sobremesa Phenom ParticleX AM, puede tomar el control interno de sus datos: -Supervisar las características críticas de los polvos metálicos -Mejorar sus procesos de fabricación aditiva en lecho de polvo y alimentados con polvo -Identifique la distribución del tamaño de las partículas, la morfología de las partículas individuales y las partículas extrañas Características de Phenom ParticleX AM Desktop SEM Análisis de partículas SEM El SEM de sobremesa Phenom ParticleX AM dispone de una cámara con una platina motorizada precisa y rápida que permite el análisis de muestras de hasta 100 mm x 100 mm. Incluso con este tamaño de muestra mayor, la lanzadera de carga patentada mantiene el ciclo de venteo/carga en un tiempo de carga líder en el sector de 60 segundos o menos, ofreciendo en última instancia un rendimiento más rápido que otros sistemas SEM. Pruebas de fabricación aditiva El SEM de sobremesa Phenom ParticleX AM mide varios parámetros de tamaño y forma, como el diámetro mínimo y máximo, el perímetro, la relación de aspecto, la rugosidad y el diámetro del ferodo. Todos ellos pueden visualizarse con valores del 10%, 50% o 90% (es decir, d10, d50, d90).