Microscopio SEM Phenom ParticleX TC

para análisismultiusosde sobremesa

Análisis de la limpieza de los componentes con un SEM de sobremesa polivalente. SEM de sobremesa para el análisis de limpieza de componentes El SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ParticleX TC es un SEM de sobremesa polivalente que permite la limpieza técnica a microescala. Caracterización de materiales El SEM de sobremesa Phenom ParticleX es una solución versátil para realizar análisis internos de alta calidad y le permite llevar a cabo una rápida caracterización, verificación y clasificación de materiales, apoyando su producción con datos rápidos, precisos y fiables. El sistema es sencillo de manejar y rápido de aprender, abriendo el análisis de partículas y materiales a un grupo más amplio de usuarios. Características principales Limpieza técnica Con la creciente demanda de análisis de partículas más pequeñas que el alcance de la microscopía óptica dentro de las industrias (de la automoción), el SEM de sobremesa Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) permite la microscopía electrónica de barrido automatizada con espectroscopia de rayos X de energía dispersiva (EDS). Esto supone una gran ventaja con respecto a la microscopía óptica, ya que permite la clasificación química de las partículas, proporcionando una gran visión de sus procesos de producción y/o entornos. Se dispone de informes estándar que cumplen con VDA 19 / ISO 16232 o ISO 4406/4407. Detector de electrones secundarios El SEM de sobremesa Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) dispone opcionalmente de un detector de electrones secundario (SED). El SED recoge electrones de baja energía de la capa superficial de la muestra. Por lo tanto, es la opción perfecta para revelar información detallada de la superficie de la muestra. El SED puede ser de gran utilidad para aplicaciones en las que la topografía y la morfología son importantes.