Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Phenom Pharos G2
educativoindustrialpara control de calidad

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo - Phenom Pharos G2 - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - educativo / industrial / para control de calidad
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo - Phenom Pharos G2 - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - educativo / industrial / para control de calidad
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Características

Tipo
electrónico de barrido de emisión de campo
Aplicaciones técnicas
educativo, industrial, para control de calidad, para investigación en materiales
Configuración
de mesa
Tipo de detector
de electrones secundarios, de electronos retrodispersados
Aumento

2.000.000 unit

Resolución espacial

2 nm, 3 nm, 10 nm

Descripción

Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo de sobremesa para obtener imágenes de alta calidad en todas las disciplinas. Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo El microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM lleva el microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo a su mesa. El Phenom Pharos G2 FEG-SEM superará a muchos SEM de sobremesa en términos de calidad de imagen, al tiempo que ofrece una experiencia de usuario mucho mejor. Para los laboratorios académicos e industriales que hasta ahora no consideraban el SEM como una opción realista, el Phenom Pharos G2 FEG-SEM hace accesible el rendimiento FEG gracias a su atractivo factor de forma y a la corta formación requerida. La rapidísima carga de muestras se traduce en un rápido intercambio de muestras, lo que se traduce en una mayor productividad. A diferencia de otros microscopios electrónicos de barrido, que acaban estando totalmente ocupados, el microscopio electrónico de barrido Phenom Pharos G2 FEG-SEM realiza los trabajos de obtención de imágenes y análisis con tanta rapidez que sirve perfectamente como herramienta de uso inmediato. El nuevo Phenom Pharos G2 FEG-SEM amplía su rango de tensión de aceleración hasta 1 kV, para adaptarse mejor a muestras aislantes y sensibles al haz, y hasta 20 kV, con una resolución de 2,0 nm que revela los detalles más sutiles. Fuente de emisión de campo única Único entre los SEM de sobremesa, el FEG-SEM Phenom Pharos G2 ofrece una fuente de emisión de campo que garantiza un alto brillo, imágenes nítidas y una corriente de haz estable. Excelente poder de resolución El MEB-FEG Phenom Pharos G2 ofrece una resolución de 2,0 nm a 20 kV. Este rendimiento muestra la forma de las nanopartículas, las imperfecciones de los revestimientos u otras características que no se verían con los SEM de tungsteno u otros SEM de sobremesa.

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Catálogos

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.