Microscopio SEM Phenom ProX G6

para análisispara la investigaciónde sobremesa

SEM de sobremesa con capacidad EDS para un análisis elemental y SEM robusto, sin esfuerzo y versátil. MEB de sobremesa Phenom con difracción de rayos X de energía dispersiva La sexta generación del SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ProX G6 llena el vacío existente entre la microscopía óptica y el análisis SEM de modelo de suelo, ampliando así las capacidades de las instalaciones de investigación. Ofrece imágenes rápidas y de alta resolución además de un detector integrado de difracción de rayos X de energía dispersiva (EDS) para un análisis elemental robusto, fácil de usar y rápido. Características principales Rápido y fácil de usar El SEM de sobremesa Phenom Pro puede utilizarse para aliviar la carga de los análisis rutinarios de muestras comunes de los instrumentos SEM de sobremesa. La configuración del instrumento y el mecanismo de carga de muestras garantizan una rápida obtención de imágenes con un tiempo mínimo de ajuste entre experimentos. Fuente CeB6 de larga duración Los usuarios de instalaciones de cualquier nivel de experiencia pueden empezar rápidamente a producir resultados de alta calidad con el SEM de sobremesa Phenom Pro. Su fuente CeB6 de larga duración ofrece un alto brillo y requiere poco mantenimiento. Robustez y tamaño reducido Su gran estabilidad y pequeño tamaño permiten utilizar el instrumento en prácticamente cualquier entorno de laboratorio; dicho de forma más sencilla, no requiere una infraestructura especializada ni la supervisión de expertos.