Microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR

de metrologíapara investigación en materialespara semiconductor

Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR El microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR ofrece una resolución subnanométrica en todo el rango de energía de 1 keV a 30 keV con un excelente contraste de materiales. Los niveles de automatización y la facilidad de uso sin precedentes hacen que este rendimiento sea accesible para usuarios de cualquier nivel de experiencia. Caracterización por microscopía electrónica de barrido - Obtención de imágenes de alta resolución de nanomateriales con la fuente de electrones monocromática UC+ para un rendimiento subnanométrico de 1 a 30 kV. - Alto contraste en materiales sensibles con un excelente rendimiento hasta 20 eV de energía de aterrizaje y detectores de alta sensibilidad en la columna y bajo la lente y filtrado de la señal para un funcionamiento de baja dosis y una selección óptima del contraste. - Tiempo de obtención de información a nanoescala muy reducido para usuarios con cualquier nivel de experiencia utilizando la columna de electrones Elstar con tecnologías SmartAlign y FLASH. - Resultados de medición consistentes con las lentes ConstantPower, el barrido electrostático y una selección de dos etapas piezoeléctricas. - Flexibilidad para los accesorios con una cámara grande. - Funcionamiento desatendido del SEM con el software Thermo Scientific AutoScript 4, una interfaz de programación de aplicaciones opcional basada en Python Tecnología SmartAlign La tecnología SmartAlign elimina la necesidad de cualquier alineación de la columna de electrones por parte del usuario, lo que no sólo minimiza el mantenimiento, sino que también aumenta su productividad.