Microscopio electrónico de transmisión Spectra 200
para control de calidadpara investigación en materialespara semiconductor

microscopio electrónico de transmisión
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Características

Tipo
electrónico de transmisión
Aplicaciones técnicas
para control de calidad, para investigación en materiales, para semiconductor
Fuente de electrones
de emisión de campo frío
Concepción de la lente
con corrector de aberraciones
Otras características
de alta resolución
Resolución espacial

0,06 nm, 0,11 nm, 0,16 nm

Descripción

Microscopio TEM y STEM de alto rendimiento para todas las aplicaciones de la ciencia de los materiales. Para que los científicos avancen en la comprensión de muestras complejas y desarrollen materiales innovadores, deben tener acceso a una instrumentación robusta y precisa capaz de correlacionar forma y función, así como de resolver el espacio, el tiempo y la frecuencia. Thermo Fisher Scientific presenta el Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM, el microscopio electrónico de transmisión (de barrido) de alto rendimiento y con corrección de aberraciones para todas las aplicaciones de la ciencia de los materiales. Ventajas del microscopio electrónico de transmisión de barrido Spectra 200 Todos los Spectra 200 (S)TEM se suministran en nuevas plataformas diseñadas para ofrecer un nivel de estabilidad mecánica sin precedentes y la más alta calidad de imagen mediante el aislamiento de vibraciones pasivo y (opcional) activo. El sistema se aloja en una carcasa totalmente rediseñada con una pantalla integrada para cargar y retirar las muestras con comodidad. Por primera vez, se puede ofrecer una modularidad completa y una capacidad de actualización entre las configuraciones sin corrección y con corrección simple con alturas variables, lo que permite la máxima flexibilidad para diferentes configuraciones de salas. El Spectra 200 (S)TEM puede ser alimentado por una nueva pistola de emisión de campo frío (X-CFEG). El X-CFEG tiene una luminosidad extremadamente alta (>>1,0 x 108 A/m2/Sr/V*), una baja dispersión de energía y puede funcionar entre 30 y 200 kV. Esto proporciona imágenes STEM de alta resolución con altas corrientes de sonda para un análisis STEM de alto rendimiento y rápida adquisición. Con la potente combinación de X-CFEG y el corrector de aberraciones de la sonda S-CORR, se pueden obtener de forma rutinaria imágenes STEM sub-angstrom con más de 1000 pA de corriente de sonda.

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