Microscopio TEM Spectra 300

para investigación en materialespara semiconductorde alta resolución

Microscopio TEM y STEM de alta resolución para todas las aplicaciones de ciencia de los materiales y semiconductores. Para que los científicos avancen en la comprensión de muestras complejas y desarrollen materiales innovadores, deben tener acceso a una instrumentación robusta y precisa capaz de correlacionar forma y función, así como de resolver el espacio, el tiempo y la frecuencia. Thermo Fisher Scientific presenta el Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM, el microscopio electrónico de transmisión de barrido de mayor resolución y con corrección de aberraciones para todas las aplicaciones de la ciencia de los materiales. Ventajas del microscopio electrónico de transmisión Spectra 300 Todos los Spectra 300 (S)TEM se suministran en nuevas plataformas diseñadas para ofrecer un nivel sin precedentes de estabilidad mecánica y la más alta calidad de imagen a través del aislamiento pasivo y (opcional) activo de las vibraciones. El sistema se aloja en una carcasa totalmente rediseñada con una pantalla integrada para cargar y retirar las muestras con comodidad. Por primera vez, se puede ofrecer una modularidad completa y una capacidad de actualización entre las configuraciones sin corrección y con corrección simple con alturas variables, lo que permite la máxima flexibilidad para diferentes configuraciones de salas. El Spectra 300 (S)TEM puede equiparse opcionalmente con un cañón de emisión de campo extremo (X-FEG)/Mono de alta resolución energética o con un X-FEG/UltiMono de ultra alta resolución energética. Los monocromadores de ambas fuentes se excitan y sintonizan automáticamente con un solo clic para lograr la mayor resolución energética posible en cada configuración mediante el uso de OptiMono u OptiMono+, respectivamente (véase el vídeo siguiente).