Espectrómetro de fotoelectrones de rayos X para análisis de superficies de alto rendimiento.
Espectrómetro de fotoelectrones de rayos X K-Alpha
El sistema de espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (XPS) Thermo Scientific K-Alpha aporta un nuevo enfoque al análisis de superficies. Centrado en ofrecer resultados de alta calidad mediante un flujo de trabajo optimizado, el sistema XPS K-Alpha hace que el funcionamiento del XPS sea sencillo e intuitivo, sin sacrificar el rendimiento ni las capacidades.
El rendimiento de vanguardia, el coste de propiedad reducido, la mayor facilidad de uso y el alto rendimiento de muestras hacen que el sistema K-Alpha XPS sea ideal para un entorno multiusuario. El sistema K-Alpha XPS permite a más investigadores de todo el mundo acceder al análisis de superficies.
Características del espectrómetro de fotoelectrones de rayos X K-Alpha
Fuente de rayos X de alto rendimiento
El monocromador de rayos X permite seleccionar el área de análisis de 50 µm a 400 µm en pasos de 5 µm, ajustándolo a la característica de interés para maximizar la señal.
Óptica de electrones optimizada
La lente de electrones de alta eficiencia, el analizador semiesférico y el detector permiten una excelente detectabilidad y una rápida adquisición de datos.
Visualización de muestras
Enfoque las características de la muestra con el sistema de visualización óptica patentado del sistema XPS K-Alpha y XPS SnapMap, que le ayuda a localizar rápidamente las áreas de interés.
Análisis de aislantes
La fuente de inundación de doble haz patentada acopla haces de iones de baja energía con electrones de muy baja energía (menos de 1 eV) para evitar la carga de la muestra durante el análisis, lo que elimina la necesidad, en la mayoría de los casos, de referenciar la carga.
Perfilado en profundidad
Vaya más allá de la superficie con la fuente de iones EX06. La optimización automatizada de la fuente y el manejo de gases garantizan un excelente rendimiento y reproducibilidad experimental.
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