Espectrómetro de fotoelectrones emitidos por rayos X Nexsa G2 XPS

de adquisición de datosautomatizado

Espectrómetro de fotoelectrones de rayos X con análisis automatizado de superficies y capacidades multitécnicas. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X El sistema de espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (XPS) Thermo Scientific Nexsa G2 ofrece un análisis de superficies totalmente automatizado y de alto rendimiento, proporcionando los datos para avanzar en la investigación y el desarrollo o para resolver problemas de producción. La integración de XPS con la espectroscopia de dispersión de iones (ISS), la espectroscopia de fotoelectrones UV (UPS), la espectroscopia de pérdida de energía de electrones reflejados (REELS) y la espectroscopia Raman, le permite realizar verdaderos análisis correlativos. El sistema incluye ahora opciones de calentamiento y polarización de muestras para aumentar la gama de experimentos posibles. El sistema de análisis de superficies Nexsa G2 libera el potencial de avances en ciencia de materiales, microelectrónica, desarrollo de nanotecnología y muchas otras aplicaciones. Fuente de rayos X de alto rendimiento Un nuevo monocromador de rayos X de baja potencia permite seleccionar el área de análisis de 10 µm a 400 µm en pasos de 5 µm, lo que garantiza la recogida de datos de la característica de interés al tiempo que se maximiza la señal. Óptica de electrones optimizada La lente de electrones de alta eficiencia, el analizador semiesférico y el detector permiten una excelente detectabilidad y una rápida adquisición de datos. Visualización de muestras Enfoque las características de la muestra con el sistema de visualización óptica patentado del sistema Nexsa XPS y XPS SnapMap, que le ayuda a localizar rápidamente las áreas de interés mediante una imagen XPS totalmente enfocada.