Sistema de haz de iones focalizados

Fresado con haz de iones anchos para el pulido superficial y transversal de muestras para la obtención de imágenes y la caracterización por SEM La observación y caracterización de alta calidad de los materiales a menudo requiere una superficie libre de artefactos, que puede ser difícil de conseguir con las técnicas tradicionales de pulido como el esmerilado o el pulido mecánico. El sistema de haz de iones Thermo Scientific CleanMill Broad es la solución completa de pulido por haz de iones para aplicaciones SEM en ciencia de materiales, que permite obtener imágenes y análisis óptimos de materiales en los que se requiere una superficie prístina, incluidos materiales sensibles al haz y al aire. El sistema CleanMill es totalmente compatible con el sistema de transferencia de muestras CleanConnect de Thermo Scientific, lo que facilita la transferencia rápida de muestras entre instrumentos y minimiza la manipulación de muestras. Fuente de iones de alta energía La fuente de iones de ultra alta energía cuenta con un voltaje de aceleración máximo de 16 kV para fresar y pulir rápidamente las superficies de las muestras. Pulido ultrafino de superficies El sistema CleanMill puede configurarse con una pistola de iones de baja energía opcional para el pulido final de las superficies de las muestras. Amplio voltaje de aceleración El sistema suministra una energía iónica que oscila entre 2 kV y 16 kV y dispone de ópticas específicas para el pulido de ultrabajo voltaje de 100 V a 2 kV. Compatibilidad con el sistema CleanConnect Transfiera muestras de forma segura desde el sistema CleanMill a la cámara del microscopio utilizando el flujo de trabajo Thermo Scientific IGST (transferencia de muestras de gas inerte) para observar materiales en sus estados nativos. Monitorización en tiempo real La pantalla táctil integrada y la cámara de alta resolución le ayudan a realizar un seguimiento del amplio proceso de fresado con haz de iones.