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- Sistema de medición de dimensiones críticas
- TZTEK Technology Co.,ltd
Sistema de medición de dimensiones críticas IRISde infrarrojospor cámarapara semiconductor
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Características
- Magnitud física
- de dimensiones críticas
- Tecnología
- por cámara, de infrarrojos
- Objeto de la medición
- para semiconductor
Descripción
El sistema de infrarrojos de TZTEK ocupa una posición de liderazgo mundial. El sistema combina una cámara de infrarrojos de alto rendimiento con una óptica de infrarrojos de diseño optimizado para generar imágenes con una resolución y un contraste excelentes.
características principales
-Sistema óptico de infrarrojos optimizado, longitud de onda de luz infrarroja de hasta 1500 nm
-Disponible para soluciones de manipulación personalizadas
-Combinación de iluminación visible e infrarroja en modos reflejado y transmitido
-SECS/GEM
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