Difractómetro de rayos X XRD-Y3000

XRD

Características -La perfecta combinación de sistemas de hardware y software satisface las necesidades de académicos e investigadores en diferentes áreas de aplicación -El sistema de medición del ángulo de difracción de alta precisión obtiene resultados más exactos -La alta estabilidad del sistema de control del generador de rayos X consigue una precisión de repetición más estable -Operación programable, diseño de estructura integrada, fácil manejo, aspecto elegante La difracción de rayos X (XRD) es un instrumento de prueba versátil para revelar la estructura cristalina y la información química: -Muestras desconocidas en una variedad de identificación de fase -Muestras mixtas con análisis de fase cuantitativo conocido -Análisis de la estructura de los cristales -Cambios en la estructura del cristal en condiciones no convencionales (alta temperatura, baja temperatura) -Análisis de la película superficial del material -Análisis de la textura y la tensión del material metálico Parámetros técnicos Potencia nominal: 3kW Tensión del tubo: 10-60kV Corriente del tubo: 5-80mA Tubo de rayos X: tubo de vidrio, tubo de cerámica, tubo de cerámica ondulada: Cu, Fe, Co, Cr, Mo, etc., Potencia 2kW Tamaño del foco: 1 x 10mm o 0,4 x 14mm o 2 x 12mm Estabilidad: 0,01% Estructura del goniómetro: Horizontal (8-2 8) Radio de difracción: 185mm Rango de escaneo: 0-164 Velocidad de escaneo: 0,0012°- 70cmin Velocidad máxima de giro: 1007min Modo de escaneo: 8-28 de enlace, 8. 28 de acción simple; escaneo continuo o por pasos Precisión de repetición del ángulo: 1/1000 Ángulo mínimo de paso: 1/1000 Detector de contadores proporcionales (PC): o contadores de centelleo (SC) Tasa de recuento máxima de linealidad: 5x105 CPS (con la función de compensación del recuento de gotas) Relación de resolución de energía; 25% (PC ). 50% (SC) Modo de recuento: coeficiente diferencial o intégral, PHA automático, regulación del tiempo muerto