Detector de índice de refracción PVI-2TE-10,6
con semiconductordinámicohemisférica

detector de índice de refracción
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Características

Mesurando
de índice de refracción
Tecnología
con semiconductor, dinámico, hemisférica, IR
Otras características
compacto, robusto, de longitud de onda, con enfriamiento termoeléctrico

Descripción

3.3 - 12,0 µm, dos etapas de enfriamiento termoeléctrico, ópticamente sumergido El PVI-2TE-8 es un detector fotovoltaico IR de dos etapas, enfriado termoeléctricamente, basado en una sofisticada heteroestructura de HgCdTe para obtener el mejor rendimiento y estabilidad, sumergido ópticamente para mejorar los parámetros del dispositivo. El detector está optimizado para el máximo rendimiento en λopt = 8.0 μm. La longitud de onda de corte puede optimizarse a petición del usuario. El sesgo inverso Vb puede aumentar significativamente la velocidad de respuesta y el rango dinámico. También da lugar a un mejor rendimiento a altas frecuencias, pero el ruido 1/f que aparece en los dispositivos sesgados puede reducir el rendimiento a bajas frecuencias. La ventana con revestimiento antirreflectante de seleniuro de zinc (wZnSeAR) con cuña de 3º evita los efectos de interferencias no deseadas Características: - Alto rendimiento en el rango espectral de 3,3 - 12,0 µm - Refrigeración termoeléctrica de dos etapas - Aplicación de la tecnología de microlentes de hiperhemiemersión - No se requiere un sesgo - No hay ruido 1/f Parámetro: PVI-2TE-10,6 Material: MCT Escriba: Fotovoltaica Inmersión: Inmersión Refrigeración: Dos etapas Longitud de onda/ λopt/ µm: 10,6 Paquete: TO8, TO66 Ventana: Al2O3 encajado Detectividad/ D∗/ cm⋅Hz1/2⋅W-1: ≥1,0x1010 Constante de tiempo/ τ/ ns: ≤10

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