Detector de índice de refracción PVI-4TE-3,4
con semiconductordinámicohemisférica

detector de índice de refracción
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Características

Mesurando
de índice de refracción
Tecnología
con semiconductor, dinámico, hemisférica, IR
Otras características
compacto, robusto, con enfriamiento termoeléctrico

Descripción

2.2 - 3,6 µm, cuatro etapas de enfriamiento termoeléctrico, sumergido ópticamente El PVI-4TE-3.4 es un detector fotovoltaico IR de cuatro etapas, enfriado termoeléctricamente, basado en una sofisticada heteroestructura de HgCdTe para obtener el mejor rendimiento y estabilidad, sumergido ópticamente para mejorar los parámetros del dispositivo. El detector está optimizado para el máximo rendimiento en λopt = 3.4 μm. La longitud de onda de corte puede optimizarse a petición del usuario. El sesgo inverso Vb puede aumentar significativamente la velocidad de respuesta y el rango dinámico. También da lugar a un mejor rendimiento en las altas frecuencias, pero el ruido 1/f que aparece en los dispositivos sesgados puede reducir el rendimiento en las bajas frecuencias. La ventana de zafiro acuñada a 3° (wAl2O3) evita los efectos de interferencias no deseadas. Características: - Alto rendimiento en el rango espectral de 2,2 - 3,6 µm - Enfriado termoeléctrico de cuatro etapas - Aplicación de la tecnología de microlentes de hiperhemiemersión - No se requiere un sesgo - No hay ruido 1/f Parámetro: PVI-4TE-3,4 Material: MCT Escriba: Fotovoltaica Inmersión: Inmersión Refrigeración: Cuatro etapas Longitud de onda/ λopt/ µm: 3,4 Paquete: TO8, TO66 Ventana: Al2O3 encajado Detectividad/ D∗/ cm⋅Hz1/2⋅W-1: ≥7.0x1011 Constante de tiempo/ τ/ ns: ≤200

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Catálogos

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.