Espectrómetro de rayos X JB-EDX8800

XRFpara análisis espectralde adquisición de datos

El EDX8800E absorbe todas las ventajas de la serie EDX y está equipado adicionalmente con un sistema de vacío, de modo que amplía el alcance de las pruebas, mejora el límite de detección y aumenta la estabilidad de los datos. Características del producto : 1.El detector de corrientes de aire de silicio importado de América con una mayor resolución de energía mejora en gran medida la detección . 2.Límite de elementos ligeros que es 100 veces mayor que el del detector de Si-pin. El alcance de la medición es más amplio, lo que puede casi satisfacer los requisitos de análisis de elementos de todo el material convencional. 3.El sistema de procesamiento de integración de datos importado de América hace que la adquisición de datos sea más rápida, la medición más estable con una excelente repetibilidad y estabilidad a largo plazo. 4.El software actualizado que integra múltiples métodos de computación de imágenes hace que la medición de datos sea más precisa y estable. 5.El software monitorea completamente el funcionamiento de las piezas del núcleo y asegura una operación segura. 6.El sistema de vacío especializado ofrece un mejor rendimiento de vacío y excelentes resultados de prueba. Elementos medibles - Na-U Contenido de los elementos - 1ppm-99.99% Límite de detección: 1 ppm Tiempo de medición - 60-200s (ajustable) Energía - AC220±5V Corriente máxima de salida del tubo de rayos X - 1mA Presión final - 6.7×10-2 Pa Tamaño de la cámara de muestras - 610*320*100(mm) (Sin vacío)/Φ100*h75(mm) (Vacío) Estabilidad de trabajo a largo plazo (sujeta a la muestra estándar) - ±0.05%(alto contenido) /±0.002%(micro-contenido) Excelente repetibilidad (sujeto a la muestra estándar) - 0.06%((alto contenido)/±0.0025%(micro contenido)