Espectrómetro EDXRF Genius IF

para la industria metalúrgicaeconómicode mesa

Espectrómetro EDXRF de banco con objetivos secundarios El espectrómetro EDXRF Genius IF (Objetivos Secundarios) de Xenemetrix ofrece una solución rentable en el mercado actual de análisis elemental. El analizador proporciona una determinación cualitativa y cuantitativa no destructiva desde el carbono(6) hasta el fermium(100), proporcionando límites de detección desde subppm hasta altas concentraciones porcentuales en peso. El Genius IF tiene componentes poderosos, incluyendo: Un sistema informático totalmente integrado Un detector de deriva de Slicon de alta resolución Un poderoso tubo de rayos X con tamaños de puntos variables, diseñado para acomodar muestras de varios tamaños Ocho objetivos secundarios y ocho filtros de tubo personalizables para la determinación rápida y precisa de trazas y elementos menores El Genius IF también puede operar en el clásico modo de excitación directa. Detector de deriva de silicio (SDD): el Detector de Deriva de Silicio permite altas tasas de conteo, mejor resolución, hasta 125eV y un rápido tiempo de respuesta, para minimizar el tiempo de inactividad operacional. SDD LE- Ultra - La ventana del detector ultra-delgado proporciona un rendimiento superior para el análisis de elementos bajos en Z. Objetivos secundarios: El Genius IF tiene una geometría única patentada que combina ocho objetivos secundarios, con ocho filtros de tubo personalizables utilizados en modo de excitación directa, para permitir una excitación óptima de todos los elementos que pueden ser detectados en el EDXRF. La técnica patentada de objetivo secundario WAG (Wide Angle Geometry) proporciona los mejores resultados para el análisis de elementos mayores, menores y trazas.