Espectrómetros EDXRF de laboratorio con objetivos secundarios
Los espectrómetros de Fluorescencia de Rayos X Dispersivos de Energía (EDXRF) de laboratorio de Xenemetrix ofrecen la última solución no destructiva en aplicaciones de análisis elementales.
El Detector de Deriva de Silicio (SDD) proporciona simultáneamente un menor ruido electrónico y una mayor tasa de conteo, lo que se traduce en una mayor resolución de energía y resultados más rápidos en comparación con el detector de Si-PIN.
Ocho objetivos secundarios en el modelo Nova proporcionan la máxima sensibilidad para una cuantificación rápida y precisa, incluso en matrices complejas como las de aleación, plástico y muestras geológicas. Los objetivos son totalmente personalizables para alcanzar los límites de detección de sub-ppm en una amplia variedad de elementos.
Los versátiles espectrómetros de laboratorio pueden analizar líquidos, sólidos, lodos, polvos, pellets y filtros de aire, mientras que la cámara analítica puede acomodar muestras de diferentes formas y tamaños.
El diseño integral del automuestreador de 10 posiciones permite una mínima intervención humana y al mismo tiempo permite la carga automática y el funcionamiento sin vigilancia.
Este rápido, preciso y fácil de usar espectrómetro está equipado con un robusto hardware y un poderoso software analítico para alcanzar bajos límites de detección.
La resolución de adquisición multicanal proporciona una relación pico a fondo superior para mejorar la respuesta del detector.
Análisis elemental no destructivo C(6)-Fm(100) de concentraciones subppm a 100%.
La potencia del tubo de hasta 300W combinada con una tecnología patentada WAG ® (Wide Angle Geometry) crea un poderoso instrumento que cualquier laboratorio sólo puede desear.
Fácil de manejar gracias al paquete de software patentado Analytix.
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