Sistema de medición efecto Hall DX-100
de concentricidadresistividadpara semiconductor

sistema de medición efecto Hall
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Características

Magnitud física
efecto Hall, de concentricidad, resistividad
Objeto de la medición
para semiconductor
Otras características
de alta precisión

Descripción

El sistema del instrumento consiste en un electroimán, una fuente de alimentación del electroimán, una fuente actual constante de la alta precisión, un voltímetro de la alta precisión, un tenedor de la muestra del efecto de pasillo, una muestra estándar y software de sistema.

Catálogos

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