Con un tomógrafo computarizado industrial de ZEISS se pueden realizar trabajos de medición e inspección de manera eficaz con un solo escaneo de rayos X. La prueba de conformidad reglamentaria, la mecánica de precisión empleada y el sofisticado método de calibración aseguran la trazabilidad del sistema. Las guías lineales y la mesa giratoria cumplen las más altas exigencias de precisión de los clientes.
¿Le gustaría examinar el interior de sus piezas de plástico o metal ligero, pero la tomografía computarizada le resulta demasiado compleja? Descubra la incorporación más reciente a la familia ZEISS METROTOM, que le permitirá sumergirse en el mundo de la tecnología de los rayos X y en sus componentes con la máxima sencillez posible.
La gama ZEISS METROTOM lleva doce años ofreciendo una tecnología CT de confianza para el control de calidad. La tercera generación del sistema de tomografía computarizada (CT) ZEISS METROTOM 1500 es la prueba de que una tecnología de rayos X fiable y avanzada ya es posible hoy en día. Ya puede poner a prueba hoy su control de calidad del futuro.
La tercera generación incluye un nuevo detector 3k que genera conjuntos de datos de volumen 3D con mayor resolución; es decir, con una cantidad de vóxeles mayor es posible detectar defectos más pequeños.
El tiempo del escaneado se puede reducir hasta en un 75 % mediante los distintos modos de operación del detector, además de conseguir un tamaño de vóxel comparable al de un detector 2k.