Microscopio SEM ZEISS Sigma​

para análisisde inspecciónpara materiales

La familia ZEISS Sigma combina la tecnología del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con una excelente experiencia de usuario. Organice sus rutinas de análisis y captura de imágenes y aumente su productividad. Estudie nuevos materiales, partículas para la inspección de calidad o muestras biológicas o geológicas. No haga concesiones en la captura de imágenes de alta resolución: recurra a bajas tensiones y benefíciese de una mejor resolución y contraste a 1 kV o menos. Use microscopía analítica avanzada con la mejor geometría EDS de su clase y obtenga datos analíticos con el doble de velocidad y más precisión.​ Con la familia Sigma se adentra en el mundo del nanoanálisis de alta gama. Sigma 360 es la elección de las instalaciones centrales de captura de imágenes, un FE-SEM intuitivo para la captura de imágenes y el análisis. Sigma 560 utiliza la mejor geometría EDS de su clase para ofrecer un análisis muy eficiente y permite realizar experimentos automatizados in situ. La elección de las instalaciones centrales. Adquisición intuitiva. Déjese guiar de forma experta desde la configuración hasta los resultados basados en IA. Descubra un flujo de trabajo intuitivo para la captura de imágenes. Vea la diferencia a 1 kV o menos. Logre una resolución mejorada y un contraste optimizado. Captura de imágenes con VP en los extremos para lograr excelentes resultados con no conductores.