Máquina de tomografía computarizada de rayos X ZEISS METROTOM 1500

de alta resolución

Con ZEISS METROTOM 1500, obtendrá una tecnología TC avanzada que detecta defectos de forma fiable mediante la captura y medición de defectos bajo la superficie. Lo que hace diferente a este TC: proporciona imágenes rápidas y de alta resolución tanto de piezas pequeñas como grandes, y todo lo que hay en medio. Escaneado de alta velocidad Calidad de imagen TC detallada Metrología precisa (VDI/VDE 2630 1.3) Certificación DAkkS opcional Tamaño compacto Ventajas Mejor calidad de imagen Alta resolución y precisión trazable ZEISS METROTOM 1500 ofrece una calidad de imagen excepcional que representa con claridad incluso los defectos más pequeños. El software AMMAR, BHC y el módulo de hardware ZEISS scatterControl marcan la diferencia para una calidad indiscutible. Además, el TC está especificado según las directrices VDI/VDE 2630 para una precisión trazable Gracias al alto nivel de experiencia en metrología de ZEISS, que también se utiliza en la tecnología CT, puede confiar en una alta precisión de medición. Se garantiza un MPE(SD) de 4,5 + L/50 μm según VDI/VDE 2630 Hoja 1.3 en todo el campo de visión - para resultados de medición en los que puede confiar. Versatilidad del sistema Adecuado para una gran variedad de piezas y aplicaciones ZEISS METROTOM 1500 escanea piezas pequeñas con una resolución muy alta y piezas de hasta 615 mm de diámetro y 800 mm de altura como una reconstrucción completa. Esto se consigue ampliando el campo de visión tanto horizontal como verticalmente.