Microscopio de rayos X ZEISS XRADIA Context microCT

para análisispara componentes electrónico3D

Con Xradia Context microCT se beneficiará de años de desarrollo y estabilidad probada, ya que se ha construido en la misma plataforma que la serie Xradia Versa Benefíciese de un sistema centrado en avances en alta resolución y alta calidad de obtención y reconstrucción de datos El sistema de control fácil de usar Scout-and-Scan le proporciona un entorno de flujo de trabajo eficiente Monte y alinee sus muestras rápidamente o amplíe su sistema con un Autoloader opcional para el manejo automatizado y el escaneo secuencial de hasta 14 muestras Con el kit in situ podrá realizar estudios en 4D e in situ para medir cambios en la microestructura de los materiales en condiciones variables Añada el kit de herramientas de reconstrucción avanzada para un rendimiento aún más rápido con excelente calidad de imagen Convertible a microscopio (XRM) Xradia Versa A medida que evolucionan sus necesidades de captura de imágenes, también debería hacerlo su instrumento. Xradia Context se une al portfolio de captura de imágenes de rayos X de ZEISS, beneficiándose del compromiso continuo de ZEISS de ampliar las capacidades y la funcionalidad de sus sistemas en el campo. Esto abre la puerta de la captura de imágenes tomográficas en 3D que está preparada para crecer al ritmo de sus necesidades: su Xradia Context microCT es el único microCT que se puede convertir en cualquier momento a CrystalCT o a una plataforma 5XX e incluso hasta un microscopio de rayos X (CRM) en 3D ZEISS Xradia 620 Versa.