Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo ZEISS Crossbeam

para materialesde alta resoluciónmodular

Combine la captura de imágenes y el rendimiento analítico de un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) de alta resolución con la capacidad de procesamiento de un haz de iones focalizado (FIB) de nueva generación. Puede que trabaje en una instalación de varios usuarios, como académico o en un laboratorio industrial. Benefíciese del concepto de plataforma modular de ZEISS Crossbeam y mejore su sistema a medida que crecen sus necesidades, p. ej., con LaserFIB para la ablación masiva de material. Durante el fresado, la captura de imágenes o al realizar el análisis en 3D, Crossbeam acelerará sus aplicaciones FIB. Maximice su información de SEM. Aumente el rendimiento de sus muestras FIB. Experimente la mejor resolución en 3D en su análisis FIB-SEM. Maximice su información de SEM Obtenga información auténtica de la muestra de sus imágenes SEM de alta resolución usando la óptica de electrones Gemini. Confíe en el rendimiento SEM de su Crossbeam para imágenes en 2D sensibles a superficies o al realizar tomografías en 3D. Benefíciese de una resolución, un contraste y una relación señal-ruido altos, incluso al usar tensiones de aceleración muy bajas. Caracterice su muestra de forma exhaustiva con una gama de detectores. Consiga un contraste puro de los materiales con el exclusivo detector Inlens EsB. Investigue muestras no conductoras sin alteraciones por artefactos de carga. Aumente el rendimiento de sus muestras FIB Benefíciese de la velocidad y la precisión de estrategias de escaneo FIB inteligentes para la eliminación de material y realice sus experimentos hasta un 40 % más rápido que antes.