Microscopio SEM ZEISS GeminiSEM

para la investigaciónindustrialde fuerte contraste

ZEISS GeminiSEM permite captar imágenes de forma sencilla con resolución subnanométrica. Estos FE-SEM (microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo) combinan una excelente captura de imágenes y capacidad de análisis. Las innovaciones en la óptica de electrones y un nuevo diseño de la cámara le permiten beneficiarse de una mejor calidad de imagen, facilidad de uso y flexibilidad. Tome imágenes subnanométricas por debajo de 1 kV sin lentes de inmersión. Descubra tres diseños únicos de la óptica de electrones ZEISS Gemini. Ideal para instalaciones centrales: ZEISS GeminiSEM 360. Permite el análisis eficiente: ZEISS GeminiSEM 460. Nuevo estándar para la captura de imágenes de superficies: ZEISS GeminiSEM 560. Benefíciese de una captura de imágenes sensible a superficies y obtenga información con baja tensión o con una alta corriente de sonda. Descubra las ventajas de la detección Inlens, NanoVP, visualización contextual de imágenes o segmentación por IA.​ Cambie fácilmente entre el trabajo con baja corriente y kV bajo al trabajo con alta corriente y kV elevado. Amplíe sus posibilidades con un laboratorio de calentamiento y tracción in situ. Benefíciese de una configuración EDS/EBSD coplanar, de mapeos sin sombras de datos EDS y de la recolección rápida de mapas EBSD con 4000 patrones/s. Explore el nuevo estándar para la captura de imágenes de superficies: captura sin campo magnético con una resolución inferior a 1 nm por debajo de 1 kV sin polarización de la muestra ni monocromatismo, Gemini 3 con su nuevo motor de óptica de electrones Smart Autopilot, para encontrar el punto ideal en sus condiciones de trabajo, y mucho más.