Máquina de tomografía computarizada de rayos X ZEISS METROTOM 6 Scout
CT3D

Máquina de tomografía computarizada de rayos X - ZEISS METROTOM 6 Scout - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - CT / 3D
Máquina de tomografía computarizada de rayos X - ZEISS METROTOM 6 Scout - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - CT / 3D
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
 

Características

Especificaciones
de rayos X, CT, 3D

Descripción

ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) digitaliza piezas complejas, incluidas las geometrías internas, al nivel de detalle de mayor precisión. Puede obtener una imagen 3D completa para análisis GD&T o para comparaciones de datos nominales y reales. La metrología CT destaca especialmente en la digitalización de piezas de plástico pequeñas. Sus ventajas: Resolución extremadamente alta gracias a un detector de rayos X 3k (3008 x 2512 píxeles) Alta precisión gracias a la realización de modelos matemáticos en el área de medición Posicionamiento automático de objetos mediante soluciones cinemáticas de 5 ejes y software de visualización en tiempo real Todo en un único software para un flujo de trabajo rápido y coherente Desvela lo que en otros sistemas queda oculto Resolución En la digitalización de piezas, ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) alcanza una nitidez en los detalles extraordinaria gracias a, por un lado, el uso de un detector de rayos X 3k de alta resolución para la adquisición de datos de medición y, por otro lado, porque la medición de la pieza se realiza en la mejor posición, lo que permite alcanzar siempre la máxima resolución posible. Puede observar el resultado a continuación: a la izquierda se muestran los datos de medición que se han generado con ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) y, a la derecha, el estándar habitual. Garantiza una alta precisión ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) aplica una base matemática inteligente para producir datos de medición 3D exactos: combina a la perfección algoritmos interconectados en toda la secuencia de medición con un modelado digital del área de medición.

Catálogos

No hay ningún catálogo disponible para este producto.

Ver todos los catálogos de ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.